Přednosti systému
- velký rozsah měření (objekty od velikosti 1mm do 1000 mm)
- rozsah měření deformace (od 0,05% až do stovek %)
- jednoduchá příprava povrchu objektu (nástřik může být pravidelný i náhodný)
- vysoká hustota naměřených dat (bodů na povrchu objektu)
- mobilita (systém lze převážet v osobním automobilu)
- flexibilita (snadná změna velikosti záběru a rozlišitelnosti systému)
- přehledná analýza výsledků měření (grafické vizualizace)
Proces měření
- na objekt je pomocí spreje nanesen kontrastní vzor (tzv. pattern)
- pattern se deformuje zároveň se zatěžovaným objektem
- objekt je pro každou úroveň zatížení (tzv. stage) sejmut 2 CCD kamerami
- ze snímků jsou pomocí image processingu vypočteny 3D souřadnice bodů ležících na povrchu objektu
- porovnáním odpovídajících si bodů v jednotlivých úrovních zatížení systém vypočítá 3D posuvy a následně tvar deformovaného objektu a 3D deformace
Výstupy z měření
- hodnoty 3D posunutí bodů na povrchu objektu
- hodnoty 3D posunutí bodů v radiálním směru
- hodnoty 3D deformace měřené na povrchu objektu (Mises, Tresca strain)
- hodnoty hlavních a vedlejších deformací (Major, Minor strain)
- tvar objektu v jednotlivých fázích deformace (mrak bodů)
- hodnoty změny tloušťky materiálu (např. u plechů)
- velikost deformace vůči limitní tvářecí křivce (FLC)
- grafické nebo tabulkové výstupy naměřených hodnot
Oblasti využití systému ARAMIS
- dimenzování součástek
- zkoušky materiálu
- ověřování FE analýz
- testování nových materiálů
- výpočty stability
- zkoumání materiálu v nelineárních oblastech deformace
- optimalizace procesu tváření (limitní křivka tváření FLC)
- zjišťování materiálových vlastností
- charakteristika procesu tečení
- charakteristika procesu stárnutí
Základní rozdělení systémů
ARAMIS 4M je určen pro měření deformací, kde je důležitým aspektem jak vysoké rozlišení tak rychlost kamer. Díky novému typu kamer je možno snímat vzorkovací frekvencí 55 Hz za plného rozlišení, případně frekvencí až 440 Hz při zmenšení rozlišení čipu v jednom směru, což umožňuje snímání středně rychlých dějů při vysokém rozlišení.
ARAMIS 5M je vzhledem k vyššímu rozlišení CCD čipu vhodný pro měření velkých objektů nebo pro měření s vyšším rozlišení detailů. Na rozdíl od systému ARAMIS 4M je zde rozlišení CCD čipu 5 000 000 bodů a snímkovací frekvence 15 Hz (resp. 30Hz při snížení rozlišení CCD čipu).
Aramis 12M je novinkou společnosti GOM, nejvyšší rozlišení senzoru nabízí měření lokálních deformací s velmi vysokou přesností. Kamery jsou schopné snímat frekvencí 24Hz při plném rozlišení nebo až 384Hz při rozlišení částečném, u kterého je nově možnost redukovat rozlišení čipu jak v horizontálním tak vertikálním směru.
ARAMIS HS je systém speciálně přizpůsobený pro měření velmi rychlých dynamických dějů. Rozlišení CCD čipu je 1 300 000 pixelů a snímkovací frekvence může být v plném rozlišení až 500Hz. Při snížení rozlišení CCD čipu může být dosaženo frekvence snímků až 4000Hz. Snímkování lze řídít externím signálem nebo dle předem připravených instrukcí.
Projekty